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Substrato substituido 76.2X1m m de pulido echado a un lado doble SGGG del gGG

Certificación
China ANHUI CRYSTRO CRYSTAL MATERIALS Co., Ltd. certificaciones
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Substrato substituido 76.2X1m m de pulido echado a un lado doble SGGG del gGG

Substrato substituido 76.2X1m m de pulido echado a un lado doble SGGG del gGG
Substrato substituido 76.2X1m m de pulido echado a un lado doble SGGG del gGG Substrato substituido 76.2X1m m de pulido echado a un lado doble SGGG del gGG Substrato substituido 76.2X1m m de pulido echado a un lado doble SGGG del gGG

Ampliación de imagen :  Substrato substituido 76.2X1m m de pulido echado a un lado doble SGGG del gGG

Datos del producto:
Lugar de origen: China
Nombre de la marca: Crystro
Certificación: SGS
Número de modelo: 1SGGG76.2*1-E1
Pago y Envío Términos:
Cantidad de orden mínima: 1 pedazo
Precio: Negotiable
Detalles de empaquetado: Caja limpia transparente
Tiempo de entrega: 3-4 semanas
Condiciones de pago: T/T, Western Union, MoneyGram
Capacidad de la fuente: 100 PC por semana
Descripción detallada del producto
Nombre de la producción: GGG substituido Dimensiones: Diámetro 76.2*1m m
Polaco: lados dobles Parámetro de Lattic: a=12.497Å
método del crecimiento: Czochralski Densidad: 7.09g/cm3
Dureza de Mohs: 7,5 Punto de fusión: 1730℃
Alta luz:

substrato substituido 1m m SGGG de GGG

,

Substrato substituido SGGG de GGG

,

El doble echó a un lado substrato de pulido de Sggg

 

 

 

 


Substrato de pulido de doble cara de 76.2*1m m SGGG

 

 

Introducción:

Los cristales substituidos del granate del galio del gadolinio (SGGG) con calcio, magnesio, y circonio como substituir los iones se han utilizado como substratos para las películas epitaxiales bismuto-substituidas del granate de hierro. Crystro puede ofrecer el substrato con parámetros bien del enrejado y la calidad superficial en los diámetros grandes hasta 4' ‘.

 

 

Propiedades principales:

 

Nombre GGG substituido
Crystal Structure Cúbico
Parámetro del enrejado a=12.497Å
Método del crecimiento Czochralski
Densidad 7.09g/cm3
Dureza de Mohs 7,5
Punto de fusión 1730℃
Índice de refracción 1,954 en 1064nm

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

CRYSTRO ofrece:

Tamaño MAX Dia 4 pulgadas
Grueso 0.5mm/1m m
Polaco Lado simple o doble
Orientación <111>±0.2°
Exactitud de la orientación del borde 2° (especial en 1°)
Corte El tamaño y la orientación especiales están disponibles a petición
Ra ≤1nm
Paquete
100 bolso limpio, bolso limpio 1000

 

Imágenes:

Substrato substituido 76.2X1m m de pulido echado a un lado doble SGGG del gGG 0

Contacto
ANHUI CRYSTRO CRYSTAL MATERIALS Co., Ltd.

Persona de Contacto: Chen Dongdong

Teléfono: +86 18326013523

Fax: 86-551-63840588

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